Aller au menu Aller au contenu
Grenoble INP
Se former tout au long de sa vie
Un seul objectif : l'évolution des compétences
Se former tout au long de sa vie

Microanalyse X (EDS) associée au Microscope Electronique à Balayage

Mis à jour le 25 août 2017
A+Augmenter la taille du texteA-Réduire la taille du texteImprimer le documentTélécharger au format PDFEnvoyer cette page par mail Partagez cet article Facebook Twitter Linked In Google+ Viadeo

Présentation

  • Ville : GRENOBLE - Campus
    Tarif : 1 450 € / personne
    Durée : 3 jours

Résumé

Mat063

Objectifs


• Connaître les bases physiques de la microanalyse X par émission de rayons X
• Découvrir les principes de fonctionnement d’un système de spectrométrie X à sélection d’énergie (EDS)
• Acquérir les bases pratiques et choisir les conditions opératoires optimales pour une utilisation efficace d’un système de spectrométrie X à sélection d’énergie (EDS)
• Savoir interpréter correctement les résultats en EDS (analyses qualitatives, analyses quantitatives, cartographie X)

Cette formation est commune aux trois dernières journées du stage « Microscopie Electronique à Balayage (MEB) et microanalyse X ».

Spécificités


Nos atouts pédagogiques
Cette formation s’appuie sur les moyens techniques que met à disposition Grenoble INP au travers de sa plateforme de caractérisation des matériaux CMTC qui regroupe de nombreux MEB, notamment deux MEB FEG de dernière génération tous équipés de systèmes d’analyses EDS.

Les intervenants sont des ingénieurs de la plateforme CMTC ou des chercheurs au laboratoire SIMAP.

Les plus de la formation :

• La moitié de la formation se déroule sous forme de travaux pratiques en petits groupes (maximum 5 personnes sur un instrument)
• Accès à une grande variété d’instruments (MEB conventionnel, MEB à effet de champ et MEB environnemental avec systèmes d’analyses EDS associés)
• Mise à disposition d’un large panel d'échantillons pour se familiariser avec les divers modes d'analyse
• Une demi-journée de travaux pratiques au choix pour approfondir et découvrir d’autres aspects

                      SIMAP      

A+Augmenter la taille du texteA-Réduire la taille du texteImprimer le documentTélécharger au format PDFEnvoyer cette page par mail Partagez cet article Facebook Twitter Linked In Google+ Viadeo

Admission

  • Ville : GRENOBLE - Campus
  • Tarif : 1 450 € / personne

Conditions d'admission


Personnes concernées
Cette formation s'adresse à des ingénieurs, chercheurs ou techniciens amenés à mettre en œuvre la microanalyse X ou à en exploiter les résultats. Des secteurs aussi variés que la métallurgie, la micro-électronique les matériaux pour l’énergie (céramiques, polymères, composite), la police scientifique ou les bio-matériaux, sont par exemple concernés.

Pré-requis : connaissances de base sur la structure de la matière (niveau bac+2). Afin de tirer profit de ce stage, une connaissance préalable en imagerie au Microscope Electronique à Balayage est nécessaire (se reporter au programme du stage « Microscopie Electronique à Balayage (MEB) » pour plus de précisions.




Contacts

A+Augmenter la taille du texteA-Réduire la taille du texteImprimer le documentTélécharger au format PDFEnvoyer cette page par mail Partagez cet article Facebook Twitter Linked In Google+ Viadeo

Programme

  • Durée des études : 3 jours

Programme


1- Jour 1
• Bases physiques de la microanalyse par émission de rayons X
• Spectrométrie X à sélection d'énergie (EDS)
• T.P. 3 – Découverte du système d’analyse EDS et pratique de l’analyse qualitative

2- Jour 2
• Microanalyse X quantitative (principe et applications)
• Les normes ISO dans le domaine de la microscopie électronique à balayage et analyses associées
• EDS : choix des conditions opératoires à haute et basse tension
• Cartographie X : Principe et choix des conditions opératoires
• T.P. 4 – Analyse quantitative par EDS et cartographie X

3- Jour 3
• Préparation d'échantillons durs : Polissage, Nettoyage et Métallisation
• Cours au choix :
• Apport de la spectrométrie à dispersion de longueur d'onde (WDS) en sciences des matériaux : aspects technologiques, applications aux éléments légers et aux couches minces
• Introduction au traitement et à l'analyse d'images
• 2 Ateliers au choix :
• Analyse à dispersion de longueur d’onde WDS
• Analyse EBSD (principe et mise en œuvre de la technique, cas d’études)
• TP Imagerie Haute résolution et Mode VP et / ou EDS
• TP Microscopie environnementale Mode ESEM et platine Peltier


A+Augmenter la taille du texteA-Réduire la taille du texteImprimer le documentTélécharger au format PDFEnvoyer cette page par mail Partagez cet article Facebook Twitter Linked In Google+ Viadeo

International

  • Stage à l'étranger : Non
A+Augmenter la taille du texteA-Réduire la taille du texteImprimer le documentTélécharger au format PDFEnvoyer cette page par mail Partagez cet article Facebook Twitter Linked In Google+ Viadeo

Débouchés

A+Augmenter la taille du texteA-Réduire la taille du texteImprimer le documentTélécharger au format PDFEnvoyer cette page par mail Partagez cet article Facebook Twitter Linked In Google+ Viadeo

Rédigé par Katia Plentay

mise à jour le 25 août 2017

Contact et inscription

Katia Plentay
04 76 57 45 03
formation-continue.stages(a)grenoble-inp.fr

télécharger le bulletin d'inscription

Communauté Université Grenoble Alpes
×
Afin d'améliorer la qualité de ce site et le service rendu à l'utilisateur, nous utilisons des cookies de mesure d’audience. En poursuivant votre navigation sur ce site, vous acceptez l'utilisation de cookies à cette fin. Pour en savoir plus