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Grenoble INP
Se former tout au long de sa vie
Un seul objectif : l'évolution des compétences
Se former tout au long de sa vie

Microscopie Electronique à Balayage (MEB) et microanalyse X

Mis à jour le 25 août 2017
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Présentation

  • Ville : GRENOBLE
    Tarif : 2 350 € / personne
    Durée : 5 jours

Résumé

Mat06

Objectifs

    • Connaître les phénomènes physiques associés aux interactions électrons-matière, ainsi que leur description théorique
    • Découvrir les principes de fonctionnement et les technologies d’un Microscope Electronique à Balayage (MEB) et d’un système de spectrométrie X à sélection d’énergie (EDS)
    • Acquérir les bases pratiques et choisir les conditions opératoires optimales pour une utilisation efficace du MEB et d’un système de spectrométrie X à sélection d’énergie (EDS)
    • Savoir interpréter correctement les images réalisées au MEB et les résultats de l’EDS


Photo stage MEB CMTC

 Crédit photos : Alexis Chezière


 

Spécificités

Nos atouts pédagogiques
Cette formation s’appuie sur les moyens techniques que met à disposition Grenoble INP au travers de sa plateforme de caractérisation des matériaux CMTC , qui regroupe de nombreux MEB, notamment deux MEB FEG de dernière génération tous équipés de systèmes d’analyses EDS.

Les intervenants sont des ingénieurs permanents de la plateforme CMTC ou des chercheurs au laboratoire SIMAP.

Les plus de la formation :

• La moitié de la formation se déroule sous forme de travaux pratiques en petits groupes (maximum 5 personnes sur un instrument)
• Accès à une grande variété d’instruments (MEB conventionnel, MEB à effet de champ et MEB environnemental avec systèmes d’analyses associés)
• Mise à disposition d’un large panel d'échantillons pour se familiariser avec les divers modes d'imagerie et d'analyse
• Une demi-journée de travaux pratiques au choix pour approfondir et découvrir d’autres aspects
                                      

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Admission

  • Ville : GRENOBLE
  • Tarif : 2 350 € / personne

Conditions d'admission


Personnes concernées

Cette formation s'adresse à des ingénieurs, chercheurs ou techniciens amenés à mettre en œuvre la microscopie électronique à balayage et/ou la microanalyse X ou à en exploiter les résultats. Des secteurs aussi variés que la métallurgie, la micro-électronique les matériaux pour l’énergie (céramiques, polymères, composite), la police scientifique ou les bio-matériaux, sont par exemple concernés.

Pré-requis : connaissances de base sur la structure de la matière (niveau bac+2)

Effectif : 5 à 18 personnes


Contacts

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Programme

  • Durée des études : 5 jours

Programme


1- Jour 1
• Microscope Electronique à Balayage conventionnel (MEB-W) et à effet de champ (MEB-FEG)
MEB-W et MEB-FEG : Les canons à électrons, Les colonnes électroniques
• Base des interactions électrons-matière pour la microscopie
• T.P.1 – Découverte du M.E.B. et imagerie secondaire

2- Jour 2
• MEB-W et MEB-FEG : Résolution à haute et basse tension, aberrations
• MEB-W et MEB-FEG : Les détecteurs d’électrons (SE, BSE, STEM), Automatismes et compensations
• MEB-W et MEB-FEG à pression contrôlée : Imagerie en modes VP, LV, ESEM
• T.P. 2 – Optimisation de l’image et imagerie rétrodiffusée.

3- Jour 3
• Bases physiques de la microanalyse par émission de rayons X
• Spectrométrie X à sélection d'énergie (EDS)
• T.P. 3 – Découverte du système d’analyse EDS et pratique de l’analyse qualitative

4- Jour 4
• Microanalyse X quantitative (principe et applications)
• Les normes ISO dans le domaine de la microscopie électronique à balayage et analyses associées
• EDS : choix des conditions opératoires à haute et basse tension
• Cartographie X : Principe et choix des conditions opératoires
• T.P. 4 – Analyse quantitative par EDS et cartographie X

5- Jour 5
• Préparation d'échantillons durs : Polissage, Nettoyage et Métallisation

Cours au choix :
• Apport de la spectrométrie à dispersion de longueur d'onde (WDS) en sciences des matériaux : aspects technologiques, applications aux éléments légers et aux couches minces
• Introduction au traitement et à l'analyse d'images

• 2 Ateliers au choix :
• Analyse à dispersion de longueur d’onde WDS
• Analyse EBSD (principe et mise en œuvre de la technique, cas d’études)
• TP Imagerie Haute résolution et Mode VP et / ou EDS
• TP Microscopie environnementale Mode ESEM et platine Peltier

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International

  • Stage à l'étranger : Non
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Débouchés

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Rédigé par Francois Miller

mise à jour le 25 août 2017

Contact et inscription

Katia Plentay
04 76 57 45 03
formation-continue.stages(a)grenoble-inp.fr

télécharger le bulletin d'inscription

Communauté Université Grenoble Alpes
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