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> Formations courtes > Matériaux-Mécanique

Caractérisation des couches minces par rayons X 30 mars - 2 avril

Publié le 2 janvier 2018
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Stage du 30 mars 2020 au 2 avril 2020

Participez à notre prochaine formation courte consacrée à la Caractérisation des couches minces par rayons X du 30 mars après-midi au 2 avril 2020 !


La formation Caractérisation des couches minces par rayons X inclut des enseignements sur les principes physiques associés aux techniques de diffraction des rayons X et de réflectométrie X, ainsi que sur les spécificités des mesures de diffraction des rayons X en incidence rasante et de réflectivité X sur les films minces.

Durant 3 jours et demi, des enseignants ingénieurs permanents du CMTC et du CEA Leti vous enseigneront les connaissances théoriques essentielles sur le sujet et vous permettront d’acquérir une première expérience pratique pour choisir les conditions opératoires les mieux adaptées au matériau étudié et enfin interpréter les données expérimentales.

Pour favoriser l'appropriation de ces connaissances, vous participerez à de nombreuses manipulations spécifiques ; il vous sera également possible de travailler sur votre propre échantillon pour observation au cours du stage.  
Vous souhaitez suivre cette formation ? Il reste encore des places disponibles, inscrivez-vous vite !


Formation en partenariat avec l'INSTN
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mise à jour le 9 janvier 2020

Université Grenoble Alpes